匯能CFTsysIII便攜式一體機
名稱：電路板PCB測試儀
品牌：
型號：
簡介：匯能CFTsysIII便攜式一體機是一款 集電腦、電路在線維修測試儀、數字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現綜合作業，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內...
申請服務
- 產品介紹
匯能CFTsysIII便攜式一體機是一款 集電腦、電路在線維修測試儀、數字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現綜合作業，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內在線維修測試儀設計水平的最高體現。
一、產品結構說明：
采用標準的便攜式一體化結構設計方案，集電腦、電路在線維修測試儀、數字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現綜合作業，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內在線維修測試儀設計水平的最高體現。
二、產品規格：
尺寸
420(L)* 230 (w)*280 (H)mm
凈重
15kg
三、基本配置參數：
筆記本電腦：
CPU主頻：1000MHZ
內存：128M
硬盤：40G
光驅：CD-R 48X
顯示屏：15LCD
存儲示波器：
并行雙通道+ 外觸發
模擬帶寬：20MHZ
最大采樣速率：60MHZ/CH
存儲深度：4000點/CH
預觸發長度：256、512、1024點
四、環境要求：
溫度：0℃——40℃
相對濕度：20%——80%
電源：單相220V ±10%，50HZ
五、主要技術指標：
1、 測試儀內置高性能CPU控制電路:
a．單片機：16位（XA系列）
b．RAM：64KB
c．EPROM：16KB
d．并口：CENTRONICS標準
避免了WINDOWS的分時特性給測試帶來的影響,保證了測試儀的動態測試指標,測試信號更穩定更可靠；
1、 數字測試通道：48通道，支持驅動閾值電平5V；
2、 集成運放測試支持電源電壓：≤±28V；
3、 總線隔離專用數字通道：8通道，用來隔離掛在總線上的三態器件，避免產生總線競爭，干擾測試；
4、 程控外供電源：+5V（自動控制、自保護功能）；
5、 電源電壓及最大輸出電流：5V/4A；
6、 后驅動電流：>200 mA;
7、 測試器件庫:TTL54/74、CMOS40/45、RAM、EPROM、集成運放、模擬開關、電壓比較器、光電耦合器、俄羅斯庫、 門 子庫；
8、 數字器件功能施加測試時間：<26 mS
9、 數字器件最大測試速度: 45KTV / S;
10、數字器件在線測試提取器件管腳狀態:11種;
11、模擬測試通道：40通道，探棒2通道；
12、模擬信號掃描電壓幅度：±1V~±28V, 步距0.5V可調;
13、VI分辨率：8~128點/周期(用示波器可測)；
14、輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選;
15、SA模擬特征分析測試坐標: 3種可選(VI /VT /VR);
16、模擬通道最大測試頻率: 16KHZ;
17、ASA(VI)測試頻率匹配:1HZ~16KHZ,共30檔可選;
18、脈沖發生器脈沖幅度：±1V~±28V;
19、脈沖發生器發生方式: 8種
① P1方式：正的直流電平；
② P2方式：負的直流電平；
③ P1+方式：正脈沖，由0度開始，寬度為N×1/64π；
④ P1-方式：負脈沖，由π開始，寬度為N×1/64π；
⑤ P2+方式：正脈沖，結束于π，寬度為N×1/64π；
⑥ P2-方式：負脈沖，結束于2π，寬度為N×1/64π；
⑦ P1+與P1-方式：P1+與P1-方式的組合；
⑧ P2+與P2-方式：P2+與P2-方式的組合。
注：寬度中的N≤64，可設置
20、ASA(VI)曲線分析測試全過程測試時間(以128點/周期40管腳器件單端口掃描為例): <１S；
21、電路板網絡測試通/斷閾值：25Ω±5Ω
22、雙通道數字存儲示波器：模擬帶寬20MHZ；
23、最大采樣速率：60MHZ/CH；存儲深度4000點/CH；
六、主要測試功能：
1、 程控電源輸出：
提供+5V測試電源，程控加電，擁有自動保護功能，安全可靠，不用外接測試電源，使用方便；|
2、 機電式繼電器輸出控制：
采用安全可靠的機電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻更小，約0.01~0.02Ω，其百萬次量級的使用壽命，幾百毫秒的動作時間足以滿足實際應用要求。
3. 數字邏輯器件在線功能測試：
能夠對5V數字邏輯器件進行在線功能測試；測試器件庫龐大（僅邏輯數字器件就1 萬多種）；測試范圍廣：TTL54/74、CMOS40/45、俄羅斯器件庫、西門子器件庫.
4．數字邏輯器件在線狀態測試：
能夠提取復雜的電路在線狀態：11種，如開路、邏輯翻轉信號、非法電平、總線競爭等等狀態，所以，對測試器件外電路的識別能力強，低檔測試儀一般只能識別2-3種 。此功能采用學習、比較的測試方式；
5． 動態總線競爭信號隔離功能：
用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競爭隔離信號；
6． IC型號識別：
針對標識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試，測試結果打印出器件型號；對識別后的器件還可直接進行功能測試加以驗證；
7． 器件“離線”功能測試；
所有庫器件都可進行“離線”功能測試，如：5V數字邏輯器件、存儲器、集成運放、光電耦合器等器件；
8． LSI大規模集成電路在線功能測試：
可對：Z80、8255、等器件進行功能測試；
9． LSI大規模集成電路在線狀態分析測試；
可采取學習、比較的方式對一些常見的LSI器件進行狀態分析測試；
10．SRAM / DRAM讀寫存儲器在線測試；
直接檢測存儲器芯片的好壞，該測試無需事先學習，有獨立的測試器件庫，可采用在線、離線測試方式
11．EPROM在線直接讀取/比較測試：
可采取在線（離線）學習/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼。
12．器件循環測試功能：
該功能可對數字邏輯器件、存儲器、集成運放、光耦等器件進行重復測試，直到出現錯誤或被終止，易于發現一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）；
13．測試夾自動定位功能：
該功能可以將測試夾以正、反方向，對齊或不對齊第一腳的方式夾在被測器件上而不影響測試結果，利于提高測試速度；
14．數字邏輯器件在線測試速度可選：
為了保證器件測試的準確性、降低誤判率，滿足不同器件對測試速度指標的不同要求，而設置了速度可選項；如：對負載能力弱的CMOS器件應選較低速度測試，一些集成度高、編程復雜的器件必須選擇較高速度測試。
15．數字邏輯器件測試閾值可調功能：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。 閾值電平的選取要與被測器件的類型相一致；在邏輯器件測試時，有時會遇到用閾值電平緊測試不通過，而用閾值電平松就能通過的現象，一般是器件的部分參數發生了變化，如驅動能力下降；
16．加電延遲可選功能：
被測電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時間越長。該選擇是確定在測試儀接通外供電源以后，需要等待多長時間后才開始進行測試。缺省為0.5秒；
17．測試夾接觸檢查功能：
該項功能主要解決當測試夾與被測器件接觸不良時，造成的測試誤判，如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等；
18．瞬時復位電路控制功能：
當測試儀突然掉電，又突然上電的情況下，不會造成測試儀內部狀態混亂而帶來安全性問題；
19．集成運放在線功能測試（運放測試技術獲國家發明專利）：
使用模擬信號測試運放在線性放大區的工作特性，有獨立的測試器件庫，包含LM324、LM348等共計3000多種，支持多種封裝形式：如雙列直插、圓形、表面貼等。與把運放作為數字器件測試相比較，此方法更科學，結果更準確。
20．集成運放在線狀態測試：
采用學習、存儲、比較的測試方式；
21．光電耦合器在線功能測試：
由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵信號測試，方法科學嚴謹，測試結果準確；低檔測試儀采用電壓激勵信號測試，會導致測試結果的準確性不高。
22、有獨立的光耦測試器件庫，達500多種；
23．光電耦合器離線直流參數測試：
可在離線情況下對光耦的主要直流參數進行測試（如光電轉換系數、輸入開啟電壓、等），解決了由于器件的參數變化難以發現的故障現象，提高了故障檢出率；
24．匯能自定義功能測試平臺：
把測試儀的測試通道開放給用戶，由用戶對被測器件自行定義測試代碼，可以進行功能測試，前提是用戶需要對器件工作原理有一定的了解，或有被測器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開發工作；
25．電路板網絡提取/比較測試；
使用模擬信號提取器件之間的連線關系，測試時無須加電，通/斷閾值設置明確，測試完成后可以Protel網絡表形式顯示，適合反演電路圖；
26．填表方式擴充集成運放測試器件庫：
以填表的方式定義運放的各個管腳狀態：如：同向輸入、反向輸入、輸出、正電源、負電源、接地腳，以及其他狀態等
27．以編程方式擴充數字器件庫：
采用HNDDL語言（天惠電子自主開發的用于描述邏輯過程的專用語言，擁有自己的版權），自適應技術完善；把擴充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測試器件庫；
28．ASA（VI）模擬特征分析測試：
通過對器件端口進行模擬特征分析測試方式（VI曲線學習/比較測試），可以發現器件端口型的故障（一般能占到維修當中的80%左右）適用于數字器件、模擬器件、模擬數字混合器件（如AD、DA等），對器件的封裝形式也不受限制，可適應于對任何器件的測試；
29．ASA多種觀察坐標顯示：
有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標觀察曲線，有人習慣上把ASA也叫成VI測試；
30．單端口、多端口（交叉）VI曲線分析測試：
對器件采取單端口或多端口的測試方式；單端口測試方式是指每個管腳對地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍阻抗特性曲線；
31．ASA 曲線雙探棒動態比較測試：
使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應節點時時的進行動態比較測試；當被測板上的器件不能使用測試夾測試時，此種方法最有效；
32、ASA 曲線測試智能提醒功能：
當使用雙探棒進行比較測試時，如果不超差，儀器會出現報警聲音，如果超差，則無報警提示，引起使用者注意，該測試方法利用微機喇叭產生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測效率，也大大降低了勞動強度；
33、ASA 測試曲線靈敏度可調：
當ASA曲線走勢趨向于45度時，如果曲線的數據發生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測試參數相關，適當調整測試參數能夠得到更靈敏的曲線；該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率；
34、ASA 曲線掃描電壓可調：（示波器可測）
VI掃描電壓±1V~±28V, 步距0.5V可調。低檔測試儀一般設定幾檔可選但不可調；
35、ASA 曲線測試頻率可調：（示波器可測）
VI測試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測試儀一般為設定不可調，或給不出頻率指標;
36、ASA 曲線測試輸出阻抗可選：
輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四檔可選：
37、ASA 曲線快速診斷分析測試：
以40管腳VI曲線單端口測試為例，全過程測試時間< 1秒；如果進行40管腳多端口（交叉）掃描測試，128點/周期，全程程測試時間也在10秒之內；
38、可按管腳設置ASA 曲線測試參數：
可根據具體器件的測試需要，給不同管腳設置不同的測試參數，可設置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測試的靈活性；
39、ASA 曲線故障快速定位/查找功能：
當VI測試出現故障曲線時，測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項，使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀，測試效率更高；
40、三端器件測試功能：
完成對三端（含輸入/輸出）分立元件的動態測試功能，如三極管、可控硅、場效應管、繼電器等器件測試：
41、三端器件測試時8種觸發信號可選，以滿足不同器件的控制觸發要求：
具有一個與掃描信號同步的脈沖發生器，用于產生觸發信號。觸發信號的極性、相位、寬度均可調，滿足正向、雙向，交、直流等多種觸發要求；
42、ASA 曲線多種排列/顯示方式：
可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點”或“畫線”來顯示曲線，單個管腳的曲線可以單獨放大或縮小；
43、分立元件測試：
可單獨對電路板上的分立元件直接進行VI曲線分析測試：如電阻、電容、電感等，也可以通過學習/比較的方式進行測試；
44、可測器件檢索功能：
內置強大的搜索引擎，可以對器件庫進行檢索；檢索后可列出器件型號、所在器件庫、管腳數、封裝和功能描述。
45、雙通道數字存儲示波器：
46、頻譜分析功能：
47、元器件速查手冊（電子詞典）：
目前容量已達近四萬種，并在不斷地擴充中，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息；
48、元器件手冊整理：
可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊當中，使用起來會更方便；
49、數據庫整理功能：
對IC狀態庫、LSI在線學習庫、EPROM離線完全學習庫、EPROM在線快速學習庫、EPROM在線完全學習庫、網絡測試庫進行整理、刪除、更名等操作；
50、維修日記：
供記錄日常維修的經驗體會，發生的重要事情等，長期保存這些資料并積累經驗，會大大提高維修水平和技能；
51、測試信息打印輸出功能：
支持對各種測試界面下的打??；
52、后臺操作記錄管理：
測試儀會自動記錄測試過程及測試結果等信息；
53、操作幫助指南：
給使用者提供正確的操作方法、步驟；
七、隨機附件清單：
|
序號
|
名稱 | 規格 | 廠家 | 數量 |
| 1 | DIP測試夾 | 8腳 | 美國3M | 2個 |
| 2 | DIP測試夾 | 14腳 | 美國3M | 2個 |
| 3 | DIP測試夾 | 16腳 | 美國3M | 2個 |
| 4 | DIP測試夾 | 20腳 | 美國3M | 2個 |
| 5 | DIP測試夾 | 28腳 | 美國3M | 1個 |
| 6 | DIP測試夾 | 40腳 | 美國3M | 1個 |
| 7 | SOIC測試夾 | 8腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 8 | SOIC測試夾 | 14腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 9 | SOIC測試夾 | 16腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 10 | SOIC測試夾 | 20腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 11 | SOIC測試夾 | 24腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 12 | SOIC測試夾 | 28腳 | 美國Pomona | 1個 |
| 13 | GUARD電纜 | USB | 天惠 | 1付 |
| 14 | ICFT/VI測試電纜 | 40×1 | 天惠 | 1對 |
| 15 | ICFT/VI測試電纜 | 20×2 | 天惠 | 1對 |
| 16 | VI測試電纜 | 40×1 | 天惠 | 1條 |
| 17 | VI測試電纜 | 20×2 | 天惠 | 1條 |
| 18 | VI測試探棒 | 標準 | 1付 | |
| 19 | VI/三端 測試鉤 | 3鉤 | 天惠 | 2付 |
| 20 | 離線測試板 | 天惠 | 1塊 | |
| 21 | 演示板 | 天惠 | 1塊 | |
| 22 | 測試探針 | 天惠 | 2付 | |
| 23 | 220V電源線 | 標準 | 1條 | |
| 24 | 測試電源線 | 2芯 | 天惠 | 1付 |
| 25 | 在線測試電源線 | 3芯 | 天惠 | 1付 |
| 26 | 離線測試電源線 | 3芯 | 天惠 | 1付 |
| 27 | 電源線、地線 | 天惠 | 2對 | |
| 28 | 產品合格證 | 天惠 | 1份 | |
| 29 | 產品保修卡 | 天惠 | 1份 | |
| 30 | 《匯能測試儀使用說明書》 | 天惠 | 1套 | |
| 31 | 《學習與實踐》 | 天惠 | 1本
|
