艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統整合了2D 幾何計算、表面瑕疵、微裂隙檢查、鋸痕檢查等光學檢測功能,并依客戶需求制定Thickness檢查及Lifetime測試,是一套可針對使用者全方位客制化的光伏芯片檢測系統。具有高產能及低破片率的優點,非常適合用于進料端,芯片可依使用者定義自動分類到堆迭盒或卡式盒內,獨特的自動轉換技術可以大量節省人工轉換所需的系統待轉時間,并應用高科技化的技術,確保光伏芯片輸送系統中重要關鍵之一的低破片率。以下是長沙艾克塞普儀器設備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統的產品特性和功能應用,如有疑問或者需要相關資料,請聯系長沙艾克賽普儀器設備有限公司www.qthhghg.com,可提供樣機和相關工程師上門演示溝通,聯系電話:0731-84284278 84284378。
	艾克賽普 Chroma 3710-HS 光伏芯片檢測系統產品特性:
	適用于 5 吋及 6 吋光伏芯片
	高產能及 0.2% 以下之低破片率
	2D 幾何計算檢測
	芯片表面瑕疵檢測
	微裂隙檢測
	鋸痕檢測
	Resistively/Thickness 測試
	壽命測試
	簡易的疑難排解程序
	進料 : 堆迭盒 / 卡式盒
	分類 : 堆迭盒 / 卡式盒